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發(fā)布時(shí)間：2023-02-10 16:15:19 作者：學(xué)術(shù)小編 來源：m.derer.cn
2)在圖像采集過程中,目標(biāo)物體的表觀特征會(huì) 隨著光照條件、拍攝視角、以及拍攝距離不同產(chǎn)生 較大變化,且由于檢測(cè)目標(biāo)背景不同,很多噪聲干擾 以及被檢測(cè)樣本的部分遮擋也會(huì)對(duì)檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生較 大影響,因此,如何基于深度學(xué)習(xí)強(qiáng)大的特征提取能 力來提高缺陷檢測(cè)樣本的準(zhǔn)確度是需要進(jìn)一步解決 的問題. 3)目前的缺陷檢測(cè)方法主要針對(duì)二維圖像的物 體表面缺陷檢測(cè),主要檢測(cè)對(duì)象是物體的表面劃痕、
