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發(fā)布時間：2022-07-07 22:00:26 作者：學(xué)術(shù)小編 來源：m.derer.cn
在長期的科學(xué)研究和工程實(shí)踐中已逐步形成了一門較完整的噪聲工程學(xué)科，可供進(jìn)行理論計算和分析。 但這些還是理論上的假設(shè)并沒有經(jīng)過實(shí)驗的證明，所以需要收集大量的數(shù)據(jù)來支持這些理論。 隨著現(xiàn)代工業(yè)和科技的飛速發(fā)展，對各種儀器設(shè)備提出了低噪聲的要求，需要進(jìn)行噪聲的分析與設(shè)計，并通過實(shí)驗來驗證，改進(jìn)設(shè)計。
投訴、打官司等方式都是用來解決糾紛的。 檢測公司為了減少不必要的麻煩，大多不愿意介入糾紛。 因此，在檢測公司問道做噪聲檢測的原因時，我們只需要回答“想了解一下家/公司/工廠里的聲音情況”。 絕口不提投訴、打官司 。
噪聲檢測報警系統(tǒng)的設(shè)計摘要: 凡是妨礙人們正常休息、學(xué)習(xí)和工作的聲音，以及對人們要聽的的內(nèi)容產(chǎn)生 干擾的聲音，都可當(dāng)成是噪聲。 噪聲不僅對人體健康有著嚴(yán)重的危害，而且影響著人們的日常生活。 因此，加強(qiáng) 環(huán)境噪聲監(jiān)測并想辦法減少噪聲危害，就成了提高人類生活質(zhì)量的一項當(dāng)前非常重要 的任務(wù)。 單片機(jī)具有體積小、功能強(qiáng)、可靠性好以及價格低等優(yōu)勢。
幾乎在所有探測器中都存在這種噪聲。 它主要出現(xiàn)在大約 1KHz以下的低頻頻域，而且與光輻射的調(diào)制頻率f成反比，故 稱為低頻噪聲或1/f 噪聲。 實(shí)驗發(fā)現(xiàn)，探測器表面的工藝狀態(tài) (缺陷或不均勻等)對這 種噪聲的影響很大，所以有時也稱為表面噪聲或過剩噪聲。 一般說，只要限制低頻端的調(diào)制頻率不低于1千赫茲，這 種噪聲就可以防止。 1）產(chǎn)生原因 ?電流噪聲的均方值可用經(jīng)驗公式表示為： 為比例系數(shù)，與探測器制造工藝、電極接觸情況、半導(dǎo)體表面狀態(tài)及器件尺寸有關(guān)；a為與材料有關(guān)的常數(shù)，通常在0.8— —1.3之間，大多數(shù)材料可近似取為1；b與流過器件的電流I有關(guān)， 通常取值2； ?主要出現(xiàn)在lkHz以下的低頻區(qū)。 2）度量1）產(chǎn)生原因 熱探測器通過熱導(dǎo)G與處于恒定溫度的周圍環(huán)境交換熱能。
